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电阻器的导电膜层通常通过气相沉积法获得,并且在某种程度上存在非

  电阻器的导电膜层通常通过气相沉积法获得,并且在某种程度上存在非晶结构。 根据热力学观点,无定形结构具有结晶的趋势。 在工作条件或环境条件下,导电膜层中的非晶结构趋于以一定速度结晶,即,导电材料的内部结构趋于致密化,这通常会导致电阻值降低。 结晶速率随温度升高而增加。

  电负载高温老化:在任何情况下,电负载都会加速电阻器的老化过程,而电负载对加速电阻器老化的影响要比高温的加速老化更为重要,因为 电阻器和引线帽之间的接触部分的温度为。该升高超过电阻器本体的平均温度升高。 通常,温度每升高10°C,寿命就会减少一半。 如果当电阻的温度上升超过额定负载时温度上升50°C,则电阻的寿命仅为正常条件下寿命的1/32。 可以通过不到四个月的加速寿命测试来评估电阻器在10年内的运行稳定性。

  直流负载电解:在直流负载的作用下,电解会使电阻器老化。 电解在凹槽电阻器槽中发生,并且电阻器矩阵中包含的碱金属离子在凹槽之间的电场中移位以产生离子电流。 当存在水分时,电解过程会更加激烈。

  如果电阻膜是碳膜或金属膜,则主要是电解氧化。 如果电阻膜是金属氧化物膜,则主要是电解还原。 对于高电阻薄膜电阻器,电解作用会增加电阻,并且沿凹槽螺旋的一侧可能会发生膜损坏。 热潮环境下的直流负载测试可以评估电阻器基材和薄膜层的抗氧化性或抗还原性能,以及保护层的抗湿性。


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